TY  - RPRT
TI  - SiO2/Si interface properties using positrons.
AU  - P Asoka-Kumar
AU  - KG Lynn
AU  - TC Leung
AU  - B Nielsen
AU  - GW Rubloff
AU  - ZA Weinberg
PY  - 1991
DO  - 10.1103/physrevb.44.5885
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9998435/
ID  - 9998435
ER  -